Razlike između elektronskog mikroskopa i metalografskog mikroskopa
Princip skenirajućeg elektronskog mikroskopa
Skenirajući elektronski mikroskop (SEM) je složen sistem. Koncentrisana je elektronska optička tehnologija, vakuumska tehnologija, fina mehanička struktura i savremena kompjuterska tehnologija upravljanja. Skenirajući elektronski mikroskop (SEM) prikuplja elektrone koje emituje elektronski top u fine elektronske snopove kroz višestepena elektromagnetna sočiva pod dejstvom ubrzanog visokog napona. Skeniranje površine uzorka može stimulirati različite informacije, koje se mogu primiti, pojačati, prikazati i slikati za analizu površine uzorka. Upadni elektroni stupaju u interakciju s uzorkom kako bi generirali tipove informacija kao što je prikazano na slici 1. Dvodimenzionalna distribucija intenziteta ovih informacija varira s karakteristikama površine uzorka (ove karakteristike uključuju površinsku morfologiju, sastav, orijentaciju kristala, elektromagnetne karakteristike itd. .). Informacije koje prikupljaju različiti detektori konvertuju se u video signale u nizu i proporcijama, a zatim se prenose u sinhroni kineskop za skeniranje kako bi se modulirao njegov sjaj, tako da se može dobiti slika skeniranja koja odražava stanje površine uzorka. Ako se signal koji detektor prima digitalizuje i konvertuje u digitalni signal, računar može dalje obraditi i pohraniti. Skenirajući elektronski mikroskop (SEM) se uglavnom koristi za posmatranje debelih uzoraka sa velikom razlikom u visini i hrapavosti, tako da naglašava efekat dubine polja u dizajnu i generalno se koristi za analizu lomova i prirodnih površina bez ručnog tretmana.
Elektronski mikroskop i metalografski mikroskop
Prvo, izvor svjetlosti je drugačiji: metalografski mikroskop koristi vidljivu svjetlost kao izvor svjetlosti, a skenirajući elektronski mikroskop koristi elektronski snop kao izvor svjetlosti za snimanje.
Drugo, princip je drugačiji: metalografski mikroskop koristi princip geometrijske optike za snimanje slike, skenirajući elektronski mikroskop koristi visokoenergetski snop elektrona za bombardiranje površine uzorka, koji pobuđuje različite fizičke signale na površini uzorka, a zatim koristi različite detektore signala za prijem fizičke signale i pretvaraju ih u slikovne informacije.
Treće, rezolucija je drugačija: zbog interferencije i difrakcije svjetlosti, rezolucija metalografskog mikroskopa može biti ograničena samo na 0.2-0.5um. Budući da skenirajući elektronski mikroskop koristi snop elektrona kao izvor svjetlosti, njegova rezolucija može doseći 1-3nm, tako da posmatranje mikrostrukture metalografskog mikroskopa pripada analizi mikronske skale, a posmatranje mikrostrukture skenirajućeg elektronskog mikroskopa pripada analizi nano-razmjera .
Četvrto, dubina polja je različita: generalno, dubina polja metalografskog mikroskopa je između 2-3um, tako da je glatkoća površine uzorka izuzetno visoka, tako da je proces pripreme uzorka relativno komplikovan. Skenirajući elektronski mikroskop, s druge strane, ima veliku dubinu polja, veliko vidno polje i trodimenzionalnu sliku, koja može direktno posmatrati finu strukturu neravnih površina različitih uzoraka.
