Razlika između elektronskog mikroskopa i metalografskog mikroskopa
Skenirajući elektronski mikroskop, skraćeno SEM, je složen sistem koji kondenzuje elektron-optičku tehnologiju, vakuumsku tehnologiju, finu mehaničku strukturu i modernu kompjutersku tehnologiju upravljanja. Skenirajući elektronski mikroskop prikuplja elektrone koje emituje elektronski top u mali elektronski snop kroz višestepeno elektromagnetsko sočivo pod dejstvom ubrzanog visokog napona. Skeniranje površine uzorka stimulira različite informacije, a primanjem, pojačavanjem i prikazivanjem informacija može se analizirati površina uzorka. Interakcija između upadnih elektrona i uzorka proizvodi tipove informacija prikazanih na slici 1. Dvodimenzionalna distribucija intenziteta ovih informacija mijenja se s karakteristikama površine uzorka (ove karakteristike uključuju površinsku morfologiju, sastav, orijentaciju kristala, elektromagnetna svojstva, itd.), što je sekvencijalna i proporcionalna konverzija informacija koje prikupljaju različiti detektori. Video signal se konvertuje u video signal, a zatim šalje u cijev za sinhrono skeniranje, a njegova svjetlina se modulira kako bi se dobila skenirana slika koja odražava stanje površine uzorka. Ako se signal koji detektor primi digitalno obradi i konvertuje u digitalni signal, računar ga može dalje obraditi i pohraniti. Skenirajuća elektronska mikroskopija se uglavnom koristi za promatranje debelih uzoraka s velikim visinskim razlikama i grubim neravninama. Stoga je efekat dubine polja naglašen u dizajnu. Obično se koristi za analizu lomova i prirodnih površina koje nisu umjetno obrađene.
Elektronski mikroskop i metalurški mikroskop
1. Različiti izvori svjetlosti: Metalografski mikroskopi koriste vidljivu svjetlost kao izvor svjetlosti, a skenirajući elektronski mikroskopi koriste elektronske zrake kao izvor svjetlosti za snimanje.
2. Različiti principi: Metalografski mikroskopi koriste princip geometrijske optike za snimanje, dok skenirajući elektronski mikroskopi koriste visokoenergetske elektronske zrake za bombardiranje površine uzorka kako bi stimulirali različite fizičke signale na površini uzorka, a zatim koriste različite detektore signala za primanje fizičke signale i pretvaraju ih u slike. informacije.
3. Različite rezolucije: Zbog interferencije i difrakcije svjetlosti, rezolucija metalografskog mikroskopa može biti ograničena samo na 0.2-0.5um. Budući da skenirajući elektronski mikroskop koristi elektronske zrake kao izvor svjetlosti, njegova rezolucija može doseći između 1-3nm. Dakle, posmatranje tkiva pod metalografskim mikroskopom spada u analizu na mikronskom nivou, dok posmatranje tkiva pod skenirajućim elektronskim mikroskopom spada u analizu na nano-nivou.
4. Različita dubina polja: Generalno, dubina polja metalografskog mikroskopa je između 2-3um, tako da ima izuzetno visoke zahtjeve za glatkoću površine uzorka, tako da je njegov proces pripreme uzorka relativno komplikovan. Skenirajući elektronski mikroskop ima veliku dubinu polja, veliko vidno polje i trodimenzionalnu sliku i može direktno posmatrati fine strukture neravnih površina različitih uzoraka.
