Transmisioni tip mikroskopa koji prati instrumente za metalografsku analizu
Metalografski analitički instrumenti koji podržavaju osvetljenje mikroskopa generalno se dele u dve kategorije „prenosno osvetljenje“ i „padajuće osvetljenje“. Prvo se odnosi na prozirne ili poluprozirne objekte koji se ispituju, velika većina bioloških mikroskopa pripada ovoj vrsti osvjetljenja; ovo drugo se odnosi na netransparentne objekte koji se ispituju, izvor svjetlosti odozgo, također poznat kao ""reflektivno osvjetljenje". Uglavnom se koristi za metaluršku mikroskopiju ili fluorescentnu mikroskopiju.
1. Transmisivno osvjetljenje
Biološki mikroskop se koristi za promatranje prozirnih uzoraka, potrebe za propuštenom svjetlošću za osvjetljavanje. Postoje dvije vrste osvjetljenja
(1) Kritično osvjetljenje (Kritično osvjetljenje) Izvor svjetlosti prolazi kroz kondenzatorsko ogledalo i prikazuje se na ravni objekta. Ako se zanemari gubitak svjetlosne energije, svjetlina slike izvora svjetlosti je ista kao i sam izvor svjetlosti, stoga je ova metoda ekvivalentna postavljanju izvora svjetlosti na ravninu objekta. Očigledno, u kritičnom osvjetljenju, ako površinska svjetlina izvora svjetlosti nije ujednačena, ili očito pokazuju male strukture, kao što su filamenti itd., tada je potrebno ozbiljno utjecati na efekat posmatranja mikroskopom, što je nedostatak kritičnog osvjetljenja. . Lijek je postavljanje opalescentnih filtera i filtera koji apsorbiraju toplinu ispred izvora svjetlosti, kako bi osvjetljenje postalo ravnomjernije i kako bi se izbjeglo produženo zračenje izvora svjetlosti i oštećenje predmeta koji se ispituje. Osvetljenje propuštenom svetlošću, snop objektiva za snimanje ugla otvora blende, ugao otvora snopa određen je ogledalom reflektora kao kvadratom, kako bi se u potpunosti iskoristio numerički otvor objektiva, ogledalo reflektora bi trebalo biti isti kao objektiv objektiva ili nešto veći numerički otvor blende.
(2) Cora osvetljenje Nedostatak neravnomernog osvetljenja površine objekta u kritičnom osvetljenju može se eliminisati u Cora osvetljenju. U izvoru svjetlosti 1 i sočivu za fokusiranje 5 između dodavanja pomoćnog sočiva za fokusiranje 2. vidljivo, jer nije direktno na izvor svjetlosti, ali je izvor svjetlosti ravnomjerno osvijetljen pomoću pomoćnog sočiva za fokusiranje 2 (također poznatog kao Cora ogledalo ) snimanje u uzorku 6, tako da se u vidnom polju objektiva (uzorka) dobije ujednačeno osvetljenje.
2. Padajuća rasvjeta
Prilikom posmatranja neprozirnog predmeta, kao što je metalni abrazivni disk kroz metalurški mikroskop, osvjetljenje se često primjenjuje sa strane ili odozgo. U ovom trenutku, površina objekta koji se posmatra na površini stakla nije pokrivena, slika uzorka se stvara ulaskom u objektiv objektiva reflektovane ili raspršene svjetlosti. Kao što je prikazano na slici 7.
3. Metoda iluminacije za posmatranje čestica sa tamnim vidnim poljem
Metoda tamnog polja može se koristiti za posmatranje supermikroskopske plazme. Takozvane supermikroskopske plazme su one male plazme koje su manje od granice rezolucije mikroskopa. Princip osvjetljenja u tamnom polju je da glavni zraci osvjetljenja ne ulaze u sočivo objektiva, već samo zraci raspršeni česticama mogu ući u sliku sočiva objektiva. Kao rezultat, slika svijetlih čestica se daje na tamnoj pozadini, a vidno polje je tamno, ali je kontrast dobar, što omogućava poboljšanu rezoluciju.
Osvjetljenje tamnog polja dijeli se na jednosmjerno i dvosmjerno.
(1) Jednosmjerno osvjetljenje tamnog polja Dijagram jednosmjernog osvjetljenja tamnog polja. Vidljivo sa slike, svjetlost iz iluminatora 2, od strane neprozirnog uzorka 1 nakon refleksije, glavno svjetlo nije u sočivo objektiva 3, u sočivo objektiva uglavnom su čestice ili neravnine finog dijela rasejano svetlo. Očigledno je da je ovo jednosmjerno osvjetljenje tamnog polja, prisutnost i kretanje čestica djelotvorno za posmatranje, ali ne i za reprodukciju detalja objekta, odnosno postoji fenomen "izobličenja".
(2) Dvosmerno osvetljenje tamnog polja Dvosmerno osvetljenje tamnog polja može eliminisati nedostatke jednosmerne distorzije. Ispred običnog kondenzatora s tri sočiva, postavljanjem prstenaste dijafragme, možete postići dvosmjerno osvjetljenje tamnog polja. Između posljednjeg dijela kondenzatora i nosećeg stakla je uronjeno u tekućinu, a između pokrovnog stakla i objektiva je suho. Dakle, metalografski analitički instrumenti koji podržavaju mikroskopski prijenos i padanje osvjetljenja, kroz prstenasti snop kondenzatorskog sočiva, pokrovno staklo u totalnoj refleksiji i ne mogu ući u objektiv objektiva, formiranje kruga kao što je prikazano na slici. Ono što ulazi u sočivo objektiva je samo svjetlost raspršena česticama na uzorku, formirajući dvosmjerno osvjetljenje tamnog polja. Za ostale srodne instrumente, kao što su analizator željeza, analizator ugljika i silicija, itd., obratite se tehničkom odjelu Tong Pua.
