Karakteristike skenirajućih probnih mikroskopa
Skenirajuća sondna mikroskopija je treći mikroskop za posmatranje strukture materije na atomskoj skali nakon poljske ionske mikroskopije i transmisione elektronske mikroskopije visoke rezolucije. Uzimajući za primjer skenirajući tunelski mikroskop (STM), njegova lateralna rezolucija je 0.1~0.2nm, a vertikalna rezolucija dubine 0.01nm. Takva rezolucija može jasno uočiti pojedinačne atome ili molekule raspoređene na površini uzorka. U isto vrijeme, mikroskop za skeniranje sonde može također provoditi istraživanja u zraku, drugim plinovima ili tekućim sredinama.
Skenirajući sondni mikroskopi imaju karakteristike atomske rezolucije, atomskog transporta i nanomikroprocesiranja. Međutim, zbog različitih principa rada različitih skenirajućih mikroskopa u pojedinostima, informacije o površini uzorka koje se odražavaju u rezultatima dobivenim od njih su vrlo različite. Skenirajuća tunelska mikroskopija mjeri informacije o distribuciji elektronskih stanica na površini uzorka, koji ima rezoluciju na atomskom nivou, ali još uvijek ne može dobiti pravu strukturu uzorka. Atomski mikroskop detektuje informacije o interakciji između atoma, tako da se može dobiti informacija o rasporedu atomske distribucije na površini uzorka, odnosno stvarna struktura uzorka. Ali s druge strane, mikroskop atomske sile ne može izmjeriti informaciju o elektronskom stanju koja se može uporediti s teorijom, tako da ova dva imaju svoje prednosti i nedostatke.
