Kako odabrati mikroskop koji odgovara vašim potrebama?
U području naučnog istraživanja i analitičkog testiranja, mikroskopi su nesumnjivo nezamjenjivi alati i poznati su kao „oko nauke“. Omogućava ljudima da istraže mikroskopski svijet koji se ne može razlikovati golim okom, pružajući ključnu tehnološku podršku za polja kao što su istraživanje materijala, biomedicina i industrijska ispitivanja. Suočeni s različitim istraživačkim potrebama, kako odabrati odgovarajući mikroskop postalo je briga mnogih istraživača.
Ovaj mikroskop koristi snop elektrona visokog{0}}pritiska kao izvor svjetlosti i fokusira sliku kroz elektromagnetno sočivo. Njegovo uvećanje može dostići milione puta, a rezolucija čak može dostići nivo angstroma (Å) (1 Å je jednak 0,1 nanometar), što je dovoljno za posmatranje strukturnih karakteristika atomskog nivoa.
Princip rada transmisione elektronske mikroskopije je sličan onome kod optičke mikroskopije, ali koristi elektronske zrake umjesto vidljive svjetlosti i elektromagnetna sočiva umjesto optičkih sočiva. Zbog činjenice da su elektronski valovi daleko manji od valne dužine vidljive svjetlosti, prema Abbeovoj teoriji difrakcijske granice, njihova rezolucija je znatno poboljšana, čime se postiže vrhunsko istraživanje mikroskopskog svijeta.
Moderna tehnologija transmisione elektronske mikroskopije se brzo razvila, što je dovelo do različitih naprednih modela: skenirajuća transmisiona elektronska mikroskopija (STEM) kombinuje prednosti i skeniranja i transmisionog načina; Ultra brza transmisiona elektronska mikroskopija (UTEM) može se koristiti za proučavanje ultra brzih dinamičkih procesa; Zamrznuta transmisiona elektronska mikroskopija (FTEM) je posebno pogodna za proučavanje biomolekula; In situ transmisiona elektronska mikroskopija (TEM) može posmatrati promjene u realnom-vremenskom vremenu u uzorcima pod vanjskim stimulansima; Transmisiona elektronska mikroskopija (CTEM) za korekciju sfernih aberacija dodatno poboljšava rezoluciju ispravljanjem aberacija sočiva.
Treba napomenuti da transmisiona elektronska mikroskopija, kao-instrument visoke preciznosti, ima karakteristike visoke cijene, složenog rada i strogih zahtjeva za pripremu uzorka. Uzorak se mora pripremiti u izuzetno tanke (obično manje od 100 nanometara) kriške kako bi se omogućilo prodiranje snopa elektrona.
skenirajući elektronski mikroskop
Ako je skala istraživanja u rasponu od desetina nanometara do milimetara i uglavnom se fokusira na karakteristike površinske morfologije uzorka, skenirajuća elektronska mikroskopija (SEM) je prikladniji izbor. Ovaj mikroskop ima širok raspon uvećanja (obično od 10x do 300000 puta), što može zadovoljiti većinu potreba za posmatranjem morfologije, elementarnom analizom, analizom mikrostrukture itd.
Princip rada skenirajuće elektronske mikroskopije je skeniranje površine uzorka tačku po tačku pomoću snopa elektrona, a zatim detektiranje signala kao što su sekundarni elektroni i povratno raspršeni elektroni koje generira uzorak kako bi se formirala slika
