Kako izračunati ukupno povećanje mikroskopa?
Možda će neki ljudi reći da ovo nije baš jednostavan problem, ali u stvarnosti je ipak malo komplikovan.
Prije svega, dajmo primjer: kada je uvećanje okulara stereomikroskopa 10 puta, raspon zuma tijela promjenjivog povećanja je 0,7X-4,5X, a dodatnog objektiva 2X, tada je njegovo optičko povećanje 10 puta 0,7 puta 2. Minimalno povećanje je 14 puta mikrona, a maksimalno uvećanje je 14 mikrona puta. 4,5 puta 2, što je jednako 90 puta. Stoga je ukupno optičko uvećanje ovog stereomikroskopa od 14 do 90 puta. Naravno, ovo je samo stvarno uvećanje glavnog okvira mikroskopa. Sljedeće je digitalno uvećanje mikroskopa.
Na primjer, ako je veličina monitora 17 inča i koristi se kamera 1/3 mikroskopa, digitalno uvećanje mikroskopske kamere kao što je prikazano u tabeli ispod je 72 puta. Formula za izračunavanje digitalnog uvećanja mikroskopa je: na osnovu gornje konfiguracije stereo mikroskopa, varijabilno povećanje je 0,7X-4,5X, dodatni objektiv je 2X, a okular kamere je 1 (ako okular kamere nema uvećanje, ne treba ga uključiti u proračun). Prema formuli: objektiv objektiva X uvećanje okulara kamere X digitalno uvećanje, minimalno digitalno uvećanje je 0,7 puta 2 puta 1 puta 72, što je jednako 100,8 puta, a maksimalno digitalno uvećanje je 4,5 puta 2 puta 1 puta 72, što je jednako 648 puta. Opseg digitalnog povećanja je od 8 puta do 106 puta.
U tom slučaju će se pojaviti dvije formule:
1. Optičko ukupno uvećanje=uvećanje okulara X uvećanje objektiva
2. Digitalno totalno uvećanje=objektiv X uvećanje okulara kamere X digitalno uvećanje
Ova formula je pogodna za bilo koji mikroskop, bilo da je u pitanju metalografski mikroskop, biološki mikroskop itd.
Uvod u Pekinšku laboratoriju za analizu kvarova čipova
Laboratorija za analizu kvarova IC
Laboratorija za testiranje inteligentnih proizvoda u Beiruanu puštena je u rad krajem 2015. godine i sposobna je za obavljanje poslova testiranja u skladu sa međunarodnim, domaćim i industrijskim standardima. Obavlja sveobuhvatno testiranje od osnovnih čipova do stvarnih proizvoda, od fizike do logike. Pruža usluge sigurnosnog testiranja kao što su preprocesiranje čipova, napadi sa strane kanala, optički napadi, invazivni napadi, okolišni napadi, napadi naponskog skoka, elektromagnetno ubrizgavanje, ubrizgavanje zračenja, fizička sigurnost, logička sigurnost, funkcionalnost, kompatibilnost i lasersko ubrizgavanje u više-tačaka. Istovremeno, može simulirati i reproducirati fenomen inteligentnog kvara proizvoda, identificirati uzrok kvara i pružiti usluge analize i testiranja kvarova, uglavnom uključujući stanicu sonde, reaktivno ionsko jetkanje (RIE), mikro sistem za detekciju curenja (EMMI), X-ispitivanje zračenjem i sistem za posmatranje defektnog rezanja (FIB). Testiranje sistema i drugi inspekcijski eksperimenti. Realizovati evaluaciju i analizu kvaliteta inteligentnih proizvoda, obezbeđujući osiguranje kvaliteta za čipove, ugrađeni softver i aplikacije proizvoda inteligentne opreme.
