Metode snimanja svijetlog-polja i tamnog-polja u fluorescentnoj mikroskopiji
(1) Metoda snimanja svijetlog polja (BFI), koja dozvoljava samo prenošenom snopu elektrona u paraksijalnom području da prođe kroz otvor objektiva, formirajući tamnu sliku na svijetloj pozadini. Što je manji otvor blende objektiva, veći je kontrast slike svijetlog polja; (2) Snimanje tamnog polja (DFI) je tehnika koja dozvoljava da samo dio raspršenog snopa velikog ugla ili određenog snopa difrakcije kristala prođe kroz otvor objektiva, dok blokira propušteni snop. Ovo formira svijetlu grafičku sliku na tamnoj pozadini. Ova metoda snimanja tamnog polja može poboljšati kontrast slika i važna je tehnika snimanja.
Postoje otprilike četiri metode za postizanje slika tamnog polja pomoću Leica fluorescentnih mikroskopa: (1) održavanje vertikalnog osvjetljenja duž optičke ose uz pomicanje otvora objektiva; (2) Upotreba kosog osvjetljenja za hvatanje raspršenih zraka u smjeru optičke ose naziva se slikanje centralnog tamnog polja (CDFI); (3) Otvor objektiva sa središnjim graničnikom zraka i kružnom providnom površinom; (4) Koristite kružno prozirno kondenzatorsko sočivo za detekciju svetlosti i centralni kružni otvor za sočivo objektiva. Metoda * ovdje je najjednostavnija, ali koristi elektronsko snimanje u distalnom području rukava, tako da je aberacija velika i kvalitet slike nije baš dobar. Druga metoda može izbjeći gore navedene nedostatke, ali otvor objektiva Leica fluorescentnog mikroskopa prima samo mali dio raspršenih difraktiranih elektrona, što rezultira manjom efikasnošću. Strana otvora blende je često podvrgnuta velikom bombardovanju elektrona, što lako može izazvati asimetričnu kontaminaciju i uticati na kvalitet slike. Prstenasto sočivo objektiva je poboljšano u ovom aspektu, ali nedostatak je što ga je teško proizvesti i teško je postići potpunu aksijalnu simetriju. S obzirom na relativno opuštene zahtjeve za sistem rasvjete, može se usvojiti potonje rješenje, koje uključuje dodavanje prstenastog otvora na kondenzatoru kako bi se obezbijedilo osvjetljenje šupljeg snopa za uzorak. Efekat ovog uređaja. Njegova rezolucija slike može biti bliska rezoluciji slika u svijetlom polju, dok je kontrast znatno poboljšan.
