Testiranje struje curenja kondenzatora sa opsegom napona multimetra
Opseg istosmjernog napona digitalnog multimetra se ne koristi samo za mjerenje napona, već i za detekciju kondenzatora. Mjerenje kapacitivnosti korištenjem raspona napona je zapravo indirektna mjerna metoda, koja može mjeriti kondenzatore malog kapaciteta u rasponu od 220pF do 1 μF i precizno izmjeriti struju curenja kondenzatora.
1. Metode i principi mjerenja. Mjerni krug je prikazan na slici 1, gdje je E vanjska suha baterija od 1,5 V. Postavite digitalni multimetar na DC napon od 2V, spojite crvenu sondu na jednu elektrodu testiranog kondenzatora Cx, a crnu sondu spojite na negativni terminal baterije. Ulazni otpor Ri za 2V zupčanik je 10M Ω. Pošto je napon na Ri ulazni napon instrumenta VIN, Ri zapravo služi i kao otpornik za uzorkovanje. Ako je struja curenja izmjerenog kondenzatora ID i stabilna vrijednost koju instrument prikazuje je VC (jedinica: V), tada
Evo primjera za ilustraciju:
Primjer 1: Testirani kondenzator je fiksni kondenzator sa kapacitetom od 1 μ F/160V. Koristite digitalni multimetar DT930FD sa opsegom od 2V/DC (=10M Ω) da povežete kolo prema slici 1. U početku je instrument pokazivao 1.521V, a zatim se prikazana vrijednost postepeno smanjivala. Nakon otprilike 1 minute, prikazana vrijednost se stabilizirala na 0,0027V. Na osnovu toga izračunata je struja curenja testiranog kondenzatora: struja curenja testiranog kondenzatora bila je samo 0,3nA, što ukazuje na dobar kvalitet.
Primjer 2: Testirani kondenzator je 0,022 μ F/63V poliesterski kondenzator, a metoda mjerenja je ista kao gore. Zbog malog kapaciteta kondenzatora, VIN (t) se brzo smanjuje tokom mjerenja. Nakon otprilike 4 sekunde, prikazana vrijednost pada na 0,0019V. Izračunata struja curenja je:
Struja curenja je vrlo mala, što ukazuje na dobar kvalitet.
2. Mjere opreza
(1) Prije mjerenja, dva pina kondenzatora trebaju biti kratko spojena i ispražnjena, inače se proces očitavanja može promijeniti
ne posmatrati.
(2) Tokom procesa mjerenja, nemojte dirati elektrodu kondenzatora objema rukama kako biste izbjegli preskakanje instrumenta.
(3) Tokom procesa mjerenja, vrijednost VIN (t) se eksponencijalno mijenja, brzo se smanjuje na početku i postepeno usporava tokom vremena. Kada je kapacitet testiranog kondenzatora Cx manji od nekoliko hiljada pikofarada, zbog brzog pada VIN (t) na početku i niske brzine mjerenja instrumenta, nema vremena za odraz početne vrijednosti napona. Stoga je početna prikazana vrijednost instrumenta niža od napona baterije E.
(4) Kada je izmjereni kondenzator Cx veći od 1 μF, kako bi se skratilo vrijeme mjerenja, za mjerenje se može koristiti režim otpora. Ali kada je kapacitet testiranog kondenzatora manji od 200pF, teško je promatrati proces punjenja zbog kratke promjene u očitavanju.
