Primjena infracrvenih mikroskopa u mikro uređajima u elektronskoj industriji
Sa razvojem nanotehnologije, njen pristup minijaturizaciji od vrha{0}}nadolje se sve više primjenjuje u oblasti tehnologije poluvodiča. IC tehnologiju smo zvali "mikroelektronika" jer je veličina tranzistora u mikrometarskom opsegu (10-6 metara). Ali tehnologija poluprovodnika se razvija vrlo brzo, napredujući za jednu generaciju svake dvije godine, a veličina će se smanjiti na polovinu svoje originalne veličine, što je poznati Mooreov zakon. Prije otprilike 15 godina, poluprovodnici su počeli da ulaze u submikronsku eru, koja je manja od mikrometara, nakon čega slijedi dublja sub mikronska era, mnogo manja od mikrometara. Do 2001. veličina tranzistora se čak smanjila na manje od 0,1 mikrometar, što je manje od 100 nanometara. Stoga će u eri nanoelektronike većina budućih IC-a biti napravljena korištenjem nanotehnologije.
Tehnički zahtjevi:
Trenutno je glavni oblik kvara elektronskog uređaja termalni kvar. Prema statistikama, 55% kvarova elektronskih uređaja uzrokovano je temperaturom koja prelazi zadatu vrijednost, a stopa kvarova elektronskih uređaja eksponencijalno raste s porastom temperature. Uopšteno govoreći, operativna pouzdanost elektronskih komponenti je veoma osetljiva na temperaturu, sa 5% smanjenjem pouzdanosti za svaki 1 stepen povećanja temperature uređaja između 70-80 stepeni Celzijusa. Stoga je potrebno brzo i pouzdano detektirati temperaturu uređaja. Zbog sve manje veličine poluvodičkih uređaja, postavljeni su veći zahtjevi za temperaturnu rezoluciju i prostornu rezoluciju opreme za detekciju.
