Primjena i ključne karakteristike transmisionih elektronskih mikroskopa
Transmisioni elektronski mikroskop (TEM) je mikroskop visoke-rezolucije koji se koristi za posmatranje unutrašnje strukture uzorka. Koristi elektronski snop da prodre u uzorak i formira projektovanu sliku, koja se zatim interpretira i analizira kako bi se otkrila mikrostruktura uzorka.
1. Elektronski izvor
TEM koristi elektronske zrake umjesto svjetlosnih zraka. Transmisioni elektronski mikroskop serije Talos opremljen u laboratoriji Jifeng Electronics MA koristi elektronske topove ultra-visoke svjetline, dok transmisioni elektronski mikroskop sa sfernom aberacijom HF5000 koristi elektronske topove hladnog polja.
2. Vakuum sistem
Kako bi se izbjegla interakcija između snopa elektrona i plina prije prolaska kroz uzorak, cijeli mikroskop se mora održavati u uvjetima visokog vakuuma.
3. Uzorak prijenosa
Uzorak mora biti transparentan, što znači da elektronski snop može prodrijeti u njega, stupiti u interakciju s njim i formirati projektovanu sliku. Obično se debljina uzorka kreće od nanometara do submikrona. Jifeng Electronics je opremljen sa desetinama Helios 5 serije FIB-ova za pripremu visoko-kvalitetnih ultra- ultra tankih TEM uzoraka.
4. Elektronski prenosni sistem
Elektronski snop je fokusiran preko transmisionog sistema. Ova sočiva su slična onima u optičkim mikroskopima, ali zbog mnogo kraće talasne dužine elektrona u poređenju sa svetlosnim talasima, zahtevi za dizajn i proizvodnju sočiva su veći.
5. Kao avion
Nakon prolaska kroz uzorak, snop elektrona ulazi u ravan slike. Na ovoj ravni, informacije elektronskog snopa se pretvaraju u sliku i hvataju detektorom.
6. Detektor
Najčešći detektori su fluorescentni ekrani, CCD (Charge Coupled Device) kamere ili CMOS (Complementary Metal Oxide Semiconductor) kamere. Kada elektronski snop stupi u interakciju sa fluorescentnim ekranom na ravni slike, stvara se vidljiva svjetlost, formirajući projektovanu sliku uzorka, koja se obično koristi za traženje uzoraka. Zbog činjenice da se fluorescentni ekrani moraju koristiti u mračnoj prostoriji i nisu-prilagođeni korisniku, proizvođači sada instaliraju kameru iznad fluorescentne strane ekrana, omogućavajući TEM operaterima da posmatraju ekran u svijetlom okruženju kako bi tražili uzorke, naginjali osovinu pojasa i obavljali druge operacije. Ovo neupadljivo poboljšanje je osnova za postizanje odvajanja ljudi-mašina.
7. Formirajte sliku
Kada elektronski snop prolazi kroz uzorak, on stupa u interakciju s atomima i kristalnom strukturom unutar uzorka, raspršujući se i apsorbirajući. Na osnovu ovih interakcija, intenzitet elektronskog snopa će formirati sliku na ravni slike. Sve ove slike su dvodimenzionalne projekcijske slike, ali je unutrašnja struktura uzorka često trodimenzionalna-, pa tome treba posvetiti posebnu pažnju kada se analiziraju detaljne informacije unutar uzorka.
8. Analiza i objašnjenje
Posmatranjem i analizom slika, istraživači mogu razumjeti informacije o mikrostrukturi uzorka, kao što su kristalna struktura, parametri rešetke, kristalni defekti, atomski raspored, itd. Jifeng ima profesionalni tim za analizu materijala koji kupcima može pružiti potpuna rješenja za analizu procesa i profesionalne izvještaje o analizi materijala.
